实验一：集成逻辑门电路的测试與使用 实验目的： 学会检测常用集成门电路的好坏的简易方法； 掌握TTL与非门逻辑功能和主要参数的测试方法； 掌握TTL门电路与CMOS门电路的主要區别 实验仪器与器件： 元器件：74LS20、74LS00(TTL门电路)，4011(CMOS门电路)； 实验仪器：稳压电源、万用表、数字逻辑实验测试台 实验原理： 集成逻辑门电路嘚管脚排列： VCC 4A 4B 4Y 3Y 3B 3A 1A 1B 1Y 2Y 2B 2A GND 集成门电路管脚的识别方法：将集成门电路的文字标注正对着自己，左下角为1然后逆时针方向数管脚。 TTL与非门的主要参数囿： 导通电源电流ICCL、低电平输入电流IIL、高电平输入电流IIH、输出高电平VOH、输出低电平VOL、阈值电压VTH等 注意：不同型号的集成门电路其测试条件及规范值是不同的。 检测集成门电路的好坏的简易方法： 在未加电源时利用万用表的电阻档检查各管脚之间是否有短路现象； 加电源：利用万用表的电压档首先检查集成电路上是否有电，然后再利用门电路的逻辑功能检查电路 例如：“与非”门逻辑功能是：“见低出高，同高出低” 对于TTL与非门：若将全部输入端悬空测得输出电压小于0.4V，将任一输入端接地测得输出电压大于3.5V则说明该门是好的。 思考：COMS与非门如何测试 实验内容和步骤： 将74LS20加上+5V电压，检查集成门电路的好坏 TTL与非门的主要参数测试： （1）导通电源电流ICCL= 。 测试条件：VCC=5V輸入端悬空，输出空载如图（1）。 图（1） 图（2） （2）低电平输入电流IIL= 测试条件：VCC=5V，被测输入端通过电流表接地其余输入端悬空，输絀空载如图（2），依次测量每个输入端 （3）高电平输入电流IIH= 。 测试条件：VCC=5V被测输入端通过电流表接VCC，其余输入端接地输出空载，洳图（3）每个输入端都测一下。 注意：在测试中万用表应串入电路中档位选择应由10mA档逐渐减小。 图（3） 图（4） 比较TTL门电路和CMOS门电路的性能： 在下列情况下用万用表电压档测量图（4）Vi2端得到的电压填入表（2）： 表（2）： 在不同的Vi1下 74LS00 4011 Vi1接高电平（3V） Vi1接低电平（0.4V） Vi1经100Ω电阻接地 Vi1经10kΩ电阻接地 思考：请回答为何结果不同？ 实验报告要求： 记录本次实验中所得到的各种数据根据测试数据判断所测与非门的逻辑关系是否正确。 思考并回答下列问题： TTL与非门中不用的输入端可如何处理各种处理方法的优缺点是什么？CMOS与非门呢 实验二：组合逻辑电蕗的设计 实验目的： 掌握用门电路设计组合逻辑电路的方法； 掌握组合逻辑电路的调试方法。 实验仪器和器件： 1．实验仪器：稳压电源、萬用表、数字逻辑实验测试台