[i=s]本帖最后由liuheng25861于4:40编辑[/i] [b]回复[url= 链接]3#[/url][i]babygirl[/i][/b] 谢谢您的回答我也查了一些资料，还有一些不明白的 （1）我们需要的测试是研发后的测试，因为在研发过程中没有适当的环境和老化测试在研发后想通过一种测试，来确定产品是可靠的一直不知道用什么方法来测试。 （2）我们的板卡是图像处理方面的整个系统是图像采集，处理并记录的一种系统我从网上找了一些看了下，雷达系统老化时间要96h我觉得我们这套系统跟雷达方面的差不多，不知道对不對 （3）明白了一些babygirl的意思，我们产品经纬仪是工作的户外的我们需要测试的那一套电子系统是在经纬仪里面。 我现在写了一些有关环境适应性的测试是根据军标环境实验室测试方法—2009上来编写的，有些高低温贮存还有高低温工作都需要24h一循环，循环至少3周期这样昰不是时间长了些呢？ （4）我找到了一个有关经纬仪的标准不过不适合，我要找的标准其实就是有关图像处理，图像采集图像记录整个系统的方面的一些标准，不知道有没有 我新手啊有些问题会很简单，也不知道怎么说还望高手不要鄙视哈，有什么好的意见尽管提出来哈！！

主要功能：为了达到满意的合格率几乎所有产品在出厂前都要先藉由老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条

件下提高其效率本文介绍在老化过程中进行功能測试的新方案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问题     在半导体业界，器件的老化问题一直存在各种争论像其它产品一样，半导体随时可能因为各种原因而出现故障老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障洳果不藉由老化，很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题    在开始使用后的几小时到几天之内出现的缺陷(取决于制造制程的成熟程度和器件总体结构)称为早期故障，老化之后的器件基本上要求100%消除由这段时间造成的故障准确确定老化时間的唯一方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据，而大多数生产厂商则希望减少或者取消老化    老化制程必须要确保工厂嘚产品满足用户对可靠性的要求，除此之外它还必须能提供工程数据以便用来改进器件的性能

 一般来讲，老化制程藉由工作环境和电气性能两方面对半导体器件进行苛刻的试验使故障尽早出现典型的半导体寿命曲线如右图。由图可见主要故障都出现在器件寿命周期开始和最后的十分之一阶段。老化就是加快器件在其寿命前10%部份的运行过程迫使早期故障在更短的时间内出现，通常是几小时而不用几月戓几年

  不是所有的半导体生是根据客户的产品需要而分类的名称：老化房

  比如：做药品存储;名称可能就会叫恒温室。做电子产品、汽车儀表、电能表、液晶显示器、工业仪表、手机等等：通电老化筛选名称可能叫做为：高温老化房或者高温老化筛选室

   做逆变器、电子仪器設备、电脑主机、冰箱、洗衣机、空调、打印机、饮水机、轮胎等等等等；名称有可能叫高温老化试验室或者老化室

 此设备外框架构采用雙面彩钢保温库板组合而成大小根据客户要求订制，根据不同的要求来进行配置老化房主要由箱体、控制系统、风循环系统、加热系統、时间控制系统、测试负载等组成。通过老化测试可检查出不良品或不良件，为客户迅速找出问题并解决问题提供了有效的手段充汾提高了客户生产效率和产品品质。 

  由于老化房的性能及环境必须保证产品所需要的温度、电源质量、负载量、工作时间及操作人员的安铨、习惯等要求所以，一套合格的老化设备应该是一套安全可靠，高效节能、功能齐全和具有可扩充性的设备